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赛默飞(原FEI)Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜
新一代的赛默飞世尔科技 Helios 5 DualBeam 具有 Helios 5 产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。
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赛默飞(原FEI)Helios 5 Laser PFIB FIB双束电镜
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Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作,简单易用,并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。
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赛默飞(原FEI)Quattro
、热或反应性的环境。Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求,它同时支持相对的双能谱(EDS)探测器、共面能谱(EDS)/电子背散射衍射(EBSD)和平行束波谱
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Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜
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赛默飞(原FEI)Volumescope 2
在大体积样品上获得最高质量三个方向分辨率一致三维数据生命科学专用的 Thermo Scientific Volumescope 2 扫描电子显微镜(Scanning Electron
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赛默飞(原FEI)ELITE 系统
无损三维电气故障定位随着“超越摩尔定律”技术的普及,封装和组装相关缺陷变得越来越难以识别。互连更加精细、更加复杂;芯片和封装被堆叠并平铺为复杂结构。焊点间距更小,而基板则采用更高的图案和嵌入式组件
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赛默飞(原FEI)Explorer 4 Analyzer
Thermo Scientific™ Explorer™ 4 Analyzer 是用于颗粒物分布统计过程控制的解决方案,帮助确定制造工艺是否受控、查找颗粒以及大批量颗粒表征。Explorer 4
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率
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赛默飞(原FEI)Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜 高性能成像
新一代的赛默飞世尔科技 Helios 5 DualBeam 具有 Helios 5 产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。
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